Zaloguj lub zarejestruj Lista podręczna - 0 Pomoc
	Strona główna   Wyszukiwanie   Moje konto   e-Zasoby   Zaproponuj zakup książki	Przełącz język: PB Library (angielski)

alfabetyczne po słowach zaawansowane historia

---

1. Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / Stanisław Adamczak.  Autor: Adamczak, Stanisław (1948- ). Wydanie:  Wydanie I, dodruk I.      2. Wybrane aspekty analizy topografii powierzchni w modelowaniu i procesach obróbkowych / Grzegorz M. Królczyk. Autor: Królczyk, Grzegorz (inżynier).      3. Morfologia powierzchni stali duplex po procesie toczenia na sucho i z chłodzeniem / Grzegorz M. Królczyk. Autor: Królczyk, Grzegorz (inżynier).      4. Oddziaływanie wiązki laserowej z kompozytami silumin - cząstki SiC / Andrzej Grabowski. Autor: Grabowski, Andrzej (fizyka).      5. Pomiary geometryczne powierzchni : zarysy kształtu, falistość i chropowatość / Stanisław Adamczak.  Autor: Adamczak, Stanisław (1948- ).      6. Metody optyczne w badaniach powierzchni i powłok rzeczywistych / Janusz Jaglarz. Autor: Jaglarz, Janusz.      7. Pomiary grubości warstw wierzchnich / Roman Janiczek. Autor: Janiczek, Roman Wiktor (1949-2008).      8. Wpływ strumienia energii szlifowania na wybrane właściwości warstwy wierzchniej / Ryszard Wójcik. Autor: Wójcik, Ryszard (inżynier).      9. Science report - Project PL-1 Computer-aided systems for manufacture and measurement of machine elements, CEEPUS / general ed. Stanisław Adamczak, Herbert Osanna ; [reviewers Stanisław Adamczak et al.] ; Kielce University of Technology. Autor: Adamczak, Stanisław (1948- )., Osanna, Peter Herbert (1941-2015).

oznacza, że bieżąca lokalizacja posiada egzemplarz

Zapraszamy do nowego katalogu.

Horizon Information Portal 3.23.1_6655

© 2001-2015 SirsiDynix All rights reserved.